[S4] S4.材料機能特性のアーキテクチャー構築シンポジウムV－さまざまな格子欠陥・相界面のアナロジー体系化による学理の再認識－

[S4.1] [基調講演]透過型電子顕微鏡による局所物性解析と粒界特性評価への挑戦

*井 誠一郎¹、連川 貞弘² (1. 物材機構、2. 熊本大院先端)

キーワード：結晶粒界、透過型電子顕微鏡、EELS、粒界破壊

我々がこれまで行ってきたTEM/EELSによる3d遷移金属の粒界磁気モーメント測定結果を紹介するとともに、半世紀ほど前に議論された磁性と粒界破壊の関係について、現状の技術を踏まえて今一度議論する。