[G] 分析・解析・評価

[50] X 線の異常散乱現象を用いた実験室系X 線回折システムによる元素・サイト識別型結晶構造の解析例

*志村 玲子¹、山根 久典¹ (1. 東北大多元研)

キーワード：X線結晶構造解析、単結晶、X線回折、異常散乱、元素・サイト

X線異常散乱現象を利用した元素・サイト識別型の結晶構造解析を可能とした実験室系X線回折システムについて説明し、この装置を用いた解析結果を数例紹介する。