日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会

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一般講演

3.Microstructure » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Analysis/Characterization/Evaluation

Fri. Mar 15, 2024 1:00 PM - 4:00 PM Rm. C (Rm.504, 5th Flr.,Lecture Hall Blg.)

座長:宇部 卓司(JFEテクノリサーチ)、山本 知一(九州大学)

2:30 PM - 2:45 PM

[55] Solute atom mediated crystallization of amorphous Pd-Si alloy thin films

*Kazuhisa SATO1, Hirotaro MORI1 (1. Research Center for UHVEM, Osaka Univ.)

Keywords:電子照射、電子励起、アモルファス、結晶化、溶質原子

非晶質(a-)Pd-19at%Si合金薄膜をa-SiOx薄膜で挟んだ積層膜を作製し、75keV電子照射により結晶化させたところ、Pd-Si中のSi濃度が顕著に増加した。a-SiOxの解離により生成したSiが結晶化を誘起したと考えられる。

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