日本地球惑星科学連合2015年大会

講演情報

口頭発表

セッション記号 M (領域外・複数領域) » M-TT 計測技術・研究手法

[M-TT44] 地球化学の最前線: 未来の地球化学を展望して

2015年5月26日(火) 16:15 〜 18:00 102B (1F)

コンビーナ:*平田 岳史(京都大学大学院理学研究科地球惑星科学専攻)、高橋 嘉夫(東京大学大学院理学系研究科地球惑星科学専攻)、角皆 潤(名古屋大学大学院環境学研究科)、小畑 元(東京大学大気海洋研究所海洋化学部門海洋無機化学分野)、橘 省吾(北海道大学大学院理学研究院自然史科学専攻地球惑星システム科学分野)、鈴木 勝彦(独立行政法人海洋研究開発機構・地球内部ダイナミクス領域)、下田 玄(産業技術総合研究所地質調査総合センター)、鍵 裕之(東京大学大学院理学系研究科附属地殻化学実験施設)、横山 祐典(東京大学 大気海洋研究所 海洋底科学部門/地球表層圏変動研究センター)、横山 哲也(東京工業大学大学院理工学研究科地球惑星科学専攻)、座長:平田 岳史(京都大学大学院理学研究科地球惑星科学専攻)、高橋 嘉夫(東京大学大学院理学系研究科地球惑星科学専攻)

16:15 〜 16:18

[MTT44-P01] フェムト秒レーザーアブレーションICP質量分析法による第四紀広域テフラ中に含まれる火山ガラスの58主要-微量元素同時分析

ポスター講演3分口頭発表枠

*丸山 誠史1服部 健太郎2平田 岳史2鈴木 毅彦3檀原 徹1 (1.株式会社 京都フィッション・トラック、2.京都大学大学院理学研究科地球惑星科学専攻地質学鉱物学教室、3.首都大学東京大学院都市環境科学研究科地理学教室)

キーワード:火山ガラス, テフラ, LA-ICP-MS法, 元素存在度, 元素パターン, フェムト秒レーザー

第四紀広域テフラに含まれる火山ガラスの化学的分類はこれまで、電子ビーム分析法(EPMAやEDX)によるAl2O3やCaOなど主要成分含有量に基づいて行われてきた。火山ガラスに含まれる微量元素濃度の測定は、INAA法やICP-AES法、レーザーアブレーションICP-MS(LA-ICP-MS)法といった微量成分分析手法によって行われてきたが、測定対象となる微量元素は専ら、希土類元素やSrやTh、Uなど幾つかの元素に限定されていた。本研究では、フェムト秒LA-ICP-MS法を用いて、火山ガラスに含まれる合計58元素(リチウムからウランまで、主要元素と微量元素の両方を含む)を同時に定量分析した。LA-ICP-MS法による主要成分の定量分析値と電子ビーム分析法による測定値の比較のために、”INTAV試料“(Kuehn et al., 2011に詳細な記載)にマウントされている4種の火山ガラス試料に関して測定を行った。その結果、LA-ICP-MS法による主要成分の定量値は10 %未満の逸脱に収まることが確認された。本研究の測定結果より、LA-ICP-MS法は微量元素のみならず、これまで電子線を用いて測定されてきた主要元素の定量分析に関しても、十分に適用可能であることが示された。現在まで姶良Tnテフラや阿蘇4テフラなど22種の日本列島及び周辺地域のテフラ試料と北米大陸の4試料を測定した結果から、各種元素の存在度とそれらのパターンによって、火山ガラスは明瞭に識別・分類が可能であることが確認できた。火山ガラスの主要・微量元素存在度とそれらのパターンは、テフラ試料のより正確な識別・分類に大いに役立つものと期待できる。