[P-EM11] New frontier: Observations of the middle and upper atmospheres from ISS

[PEM11-12] 国際宇宙ステーションGLIMSミッションにより観測された雷発光とホイスラを用いた電離層F層の電子密度推定

*鈴木 克徳¹、柿沼 遠方¹、芳原 容英¹、Ivan Linscott²、Umran Inan²、佐藤 光輝³、高橋 幸弘³、牛尾 知雄⁴、河崎 善一郎⁴、森本 健志⁵、山崎 敦⁶、鈴木 睦⁶ (1.電気通信大学大学院 情報理工学研究科、2.スタンフォード大学 電子工学科、3.北海道大学大学院　理学院宇宙理学専攻、4.大阪大学大学院工学研究科情報通信工学部門、5.近畿大学 理工学部、6.宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所)

キーワード：ホイスラ, 電離層F層, GLIMS, 国際宇宙ステーション

雷放電における空電のうち電離層を透過し、磁気圏で観測されたものをホイスラという。ホイスラとなる空電は、分散性媒質である電離層プラズマを透過することにより、周波数によって異なる群遅延が生じる。本研究では、国際宇宙ステーション搭載のGLIMS (Global Lightning and SprIte MeasurementS)ミッションによる光学観測と電磁波観測により得られたホイスラより導出した群遅延を用いた解析と電磁波観測で得られたホイスラのみを用いたホイスラの分散性を用いた解析の2通りの方法より、電離層F層の最大電子密度の推定を行う。その結果、分散が小さいホイスラに関しては、上記2通りの方法およびIRIにおいてよい一致が見られた。この方法は、洋上を含む世界中の雷活動領域上 空での電離層F層の電子密度を導出するのに有用であると考えられる。