[SCG55-04] 全自動粒子画像分析と統合されたラマン分光法を用いた100ミクロン以下細粒を有する地質粒子の新しい定量的分類法の提案 *笹倉 大督1、愛子 早内1 (1.スペクトリス株式会社 マルバーン事業部)