11:00 〜 13:00 [PPS08-P02] 微小領域X線回折法によるレーザー衝撃圧縮を受けたSiO2の変成評価 *大野 正和1、近藤 忠1、境家 達弘1、重森 啓介2、弘中 陽一郎2 (1.大阪大学大学院理学研究科宇宙地球科学専攻、2.大阪大学レーザー科学研究所)