2021年5月28日に、『小惑星探査機「はやぶさ 2」が持ち帰った 小惑星「リュウグウ」の試料初期分析プロジェクトに協力』に関するニュースリリースを行いました。
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  TESCAN社は1991年に設立されたチェコ共和国ブルノを拠点とした電子顕微鏡メーカです。プラズマFIB-SEM、ToF-SIMSを搭載したFIB-SEM、共焦点ラマン顕微鏡を融合したSEMなどさまざまな革新的技術を世界で初めて市場に導入したことでも知られ、現在では80カ国以上に3000台以上の納入台数を誇ります。最近ではX線マイクロCTをTESCAN社の製品ポートフォリオに加え、幅広くイメージング装置を提供しています。
  TESCAN AMBER X は、従来のGa FIB システムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIB と超高分解能FE-SEM が一体となった分析システムです。
多種多様な材料について大面積の加工を高速で行うことが可能になるのに加え、マルチモーダルイメージングがフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現します。また、Xe イオンの不活性な性質と相互作用領域の小ささにより、コンタミフリー・ダメージを抑えた微小試料作製が可能です。

TESCAN AMBER Xの外観


XeプラズマFIBにより、1mm幅で作製されたリチウムイオン電池電極の研磨断面のSEM像。作製時間は3.5時間。
  SEM/FIB-SEM チャンバーに共焦点ラマン顕微鏡（CRM）の機構を取り付けることで、SEM からCRM への関心領域の移動、その逆方向についてもワンクリックで行うことができる複合システムです。スタンドアロンのSEM/FIB-SEM と共焦点ラマン顕微鏡のすべての特長や性能を生かしたまま一体化されており、同一箇所の高品質なSEM/EDSイメージングとラマンマッピングを迅速に行うことが可能です。


閃緑岩のEDS マッピング像（左）とSEM 像に重ね合わせたラマン像（中）とそのラマンスペクトル例（右）
  医療用CTの測定視野の広さとラボ用X線マイクロCTの空間分解能の双方を1台で両立したX線マイクロCTシステムです。地質調査で採取されるようなコアサンプルを最大1m長までフルにスキャンできるだけでなく、岩栓状もしくはドリル切削されたミリメートルサイズのサンプルを3μmの空間分解能でイメージング可能です。
高出力のマイクロフォーカスX線源の搭載により、高スループットの3次元イメージングが可能であるとともに、時間分解能10秒以下の高速ダイナミック3次元イメージングの用途にも対応します。


タービダイト・コアのマルチスケールイメージング
1m長のコア全体のスキャンから粒子解析可能な高解像スキャンまで、試料の切り出しをせずに可能 （サンプル提供：Ghent大学）