内容フランスに本社を持つCAMECAは、1929年の創設以来、世界の研究界に対する科学機器のメーカーから、半導体産業向けの計測ソリューションのプロバイダへと進化してきました。
そして下記に⽰す数々の優れた微量分析技術を開発、改良してきました:
- ダイナミック⼆次イオン質量分析装置(SIMS)
固体試料中の数10μm~サブμm領域の⾼感度な元素分析または同位体分析が可能
- 3次元アトムプローブ装置(APT)
固体試料中の数10nm程度の領域に含まれる3次元元素分布を⾼感度かつサブnmの空間分解能で取得可能
- 電⼦線マイクロアナライザ(EPMA)
  CAMECAのダイナミックSIMS、並びに3次元アトムプローブによる分析事例:
〇 微⼩領域の同位体分析
〇 軽元素分析
〇 鉱物中の微量元素の偏析を捉えたイオンイメージング
等、下記に数多く取り揃えております
分析事例｜アメテック株式会社カメカ事業部 (cameca.jp)

分析事例｜アメテック株式会社カメカ事業部 (cameca.jp)
  CAMECAは、ダイナミックSIMSや3次元アトムプローブの最新使⽤事例等に関するウェビナーをオンデマンドでも⾏っております:

〇 SIMS 
Webinars | CAMECA

〇 3次元アトムプローブ
APT (cameca.com)

その他、何かご質問がございましたらば、下記ページよりご連絡をお願い致します:



お問合せ｜アメテック株式会社カメカ事業部 (cameca.jp)