薄片、ドリルコア、隕石、化石などの試料を、前処理不要で大面積の元素マッピングを可能にする微小部蛍光X線分析装置をご紹介します。ポータブルから卓上型、さらに大型試料用まで多彩なラインナップと、鉱物種解析に最適なソフトウェアを取り揃えています。皆さまのお越しを心よりお待ちしております。
 
  ▪ 集光型X線と高性能シリコンドリフト検出器による迅速な分析
 ▪ 大面積元素マッピングと高い測定精度を実現する高速ステージ
 ▪ 軽元素分析のための検出器と真空引きに不向きな試料のためのHeガス置換
 ▪ ポイント分析やマッピング分析のための最適な検量線法およびFP法定量
 
  ▪ オンザフライによる最大80 x 60 cm² の迅速な元素マッピング
 ▪ 60mm² 検出器を最大2本搭載できるXFlash^®SDDテクノロジー
 ▪ 可変型X線照射径（100 - 500 µm）による試料に最適なデータ収集
 ▪ 特許アパーチャーマネージメントシステムにより、微小X線を維持しながら、凹凸のあるサンプル（岩石表面、化石、ドリルコアなど）の元素マッピングが可能