[P-PS08] 太陽系物質進化

[PPS08-P20] FIB-TOF-SIMS/SNMS法によるアエンデ隕石マトリックスの分析

*森田 真人¹、宮村 昌吏¹、坂本 哲夫¹ (1.工学院大学)

キーワード：分析装置開発、二次イオン質量分析、アエンデ、マトリックス

アエンデ隕石は炭素質コンドライトを代表する隕石の１つである。CAI、コンドリュール、マトリックスなどの組織からなるが、マトリックスの注目度は低い。マトリックスは様々な鉱物の集合体であり、アエンデ隕石の場合、変成作用の影響を強く受けており、主成分であるオリビンは始原的な情報を失っている可能性が高い。そのため、マトリックスの形成モデルは極めて複雑であり、凝集過程や変成の程度を理解することは難しい。マトリックスの形成モデルを正しく理解するためには、同位体分析も含めて、様々なスケールで網羅的に分析することが重要である。
我々は独自に開発した集束イオンビーム飛行時間型二次イオン質量分析装置（Focused Ion Beam Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometer：FIB-TOF-SIMS）を使用してマトリックス領域の分析を行い、オリビン粒子間に数100 nm程度のAlに富んだ粒子(Al-rich)の存在を明らかにした。FIB-TOF-SIMSは極めて高い面分解能（最高40 nm）で、全元素を同時にイメージングすることができる。また、FIBによりその場で鉱物粒子の断面加工が可能であり、粒子内部の分析も行うことができる。さらにレーザー共鳴イオン化法と組み合わせることで、精密な同位体比分析も可能である。本発表では、FIB-TOF-SIMS装置の紹介と、マトリックス分析への応用を紹介する。さらに、FIB-TOF-SIMS分析から想定されたマトリックスの凝集過程について紹介する。