Vishal Gautam

発表者・著者、共著者

2025年5月29日(木) 17:15 〜 19:15 ポスター会場 (幕張メッセ国際展示場 7・8ホール)

[E] ポスター発表
| セッション記号 M (領域外・複数領域)
| M-AG 応用地球科学

[M-AG33] Satellite Land Physical Processes Monitoring at Medium/High/Very High Resolution

17:15 〜 19:15

[MAG33-P03] Application of Semi-Physical Models for Corn and Soybean Yield Estimation in Illinois, USA

*Vishal Gautam¹、Abdul Gani²、Shray Pathak ¹ (1.Indian Institute of Technology Ropar, Punjab, India 、2.Netaji Subhas University of Technology, New Delhi, India )

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