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[PCG20-01] High-Precision Permittivity Measurements with the Lunar Dielectric Analyzer (LDA) and Surface Dielectric Analyzer (SDA)
★Invited Papers
*宮本 英昭1,2、小林 真輝人1、村上 友規1、竹倉 駿也1、戸井田 愛理1、清水 雄太1、竹村 知洋1、吉光 徹雄3、宇佐美 尚人3、大槻 真嗣3、國井 康晴4、前田 孝雄5、熊本 篤志6、仲内 悠祐7、新原 隆史8、臼井 寛裕3、長岡 央7、佐伯 和人7、John Culton2、Erik Asphaug9、姫野 武洋1、Patrick Michel10,1、渡邉 匡人11 (1.東京大学、2.アデレード大学、3.JAXA、4.中央大学、5.東京農工大学、6.東北大学、7.立命館大学、8.岡山理科大学、9.アリゾナ大学、10.コートダジュール天文台、11.学習院大学)


