First Direct Observation of Graphene Oxide in Fault Gouge by Transmission Electron Microscopy (TEM)

講演情報

[J] ポスター発表

セッション記号 S (固体地球科学) » S-CG 固体地球科学複合領域・一般

[S-CG68] 岩石・鉱物・資源

2026年5月26日(火) 17:15 〜 19:00 ポスター会場 (幕張メッセ国際展示場 7・8ホール)

17:15 〜 19:00

*島田知弥¹、長濱裕幸¹、武藤潤¹、中村教博²、澤燦道¹、大藤弘明³ (1. 東北大学大学院理学研究科地学専攻、2. 東北学院大学高等教育開発室、3. 東京大学)

キーワード：酸化グラフェン、ラマン分光法、X線光電子分光法（XPS）、透過型電子顕微鏡（TEM)、断層、ナノシート