ポスター発表

[1P01-24-09] 全反射低速陽電子回折(TRHEPD)によるSi(111) 7×7 再構成表面の構造解析

〇望月 出海¹、花田 貴²、兵頭 俊夫¹ (1.KEK物構研SPF、2.東北大金研)