日本分析化学会第72年会

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(ポスター講演)

一般ポスター/テクノレビューポスター

一般ポスター/テクノレビューー1

Thu. Sep 14, 2023 8:45 AM - 10:15 AM General poster (A1~A4)

8:45 AM - 10:15 AM

[2P-041] GC-MS向け新規オプションユニットの試作開発 ~規制物質等の迅速スクリーニングへの適応~

○三島 有二1、藤井 麻樹子2、津越 敬寿3 (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所)

Keywords:イオン付着イオン化質量分析法、スクリーニング分析、分子量計測、RoHS

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