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(ポスター講演)

一般講演（ポスター発表）

一般／テクノレビューポスター-1

Fri. Sep 13, 2024 10:15 AM - 11:45 AM P (NITech Hall)

10:15 AM - 11:45 AM

[P3032] TOF-ICP-MSによる微粒子混合試料のノンターゲット分析（２）：個々の未知粒子の元素組成解析と識別への応用

○高橋隆子²、Schlatt Lukas¹ (1. Nu Instruments Ltd.、2. アメテック(株))

Keywords:TOF-ICP-MS、SP-ICP-MS、ノンターゲット分析、ナノ粒子の多元素分析、元素組成解析

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