スケジュール 0 15:15 〜 17:00 [P1211RD] コロイダルプローブを利用したナノ摩耗試験による高分子薄膜摩耗過程の解析 ○柳瀬 直人1、澤井 大輔1 (1. 富士フイルム(株)解析技術センター) キーワード:薄膜、摩耗、ナノトライボロジー 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証