第83回分析化学討論会

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Oral presentation

04:X線分析・電子分光分析 ・量子ビーム分析

04:X線分析・電子分光分析 ・量子ビーム分析-1

Sun. May 21, 2023 1:15 PM - 2:30 PM C (C12)

座長:辻 幸一(大阪公立大学大学院工学研究科)

1:15 PM - 1:30 PM

[C2101] 電子回折による非晶質エポキシ樹脂の電子線照射損傷評価

○吉田 要1、黄 馨慧1、宮田 智衆2、佐藤 庸平2、陣内 浩司2 (1. 一般財団法人 ファインセラミックスセンター、2. 東北大学多元物質科学研究所)

Keywords:エポキシ樹脂、電子顕微鏡、非晶質、電子線照射損傷、電子回折

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