電子回折による非晶質エポキシ樹脂の電子線照射損傷評価

講演情報

(口頭講演)

04：X線分析・電子分光分析・量子ビーム分析

04：X線分析・電子分光分析・量子ビーム分析-1

2023年5月21日(日) 13:15 〜 14:30 C会場 (C12)

座長:辻幸一(大阪公立大学大学院工学研究科)

13:15 〜 13:30

○吉田要¹、黄馨慧¹、宮田智衆²、佐藤庸平²、陣内浩司² (1. 一般財団法人ファインセラミックスセンター、2. 東北大学多元物質科学研究所)

キーワード：エポキシ樹脂、電子顕微鏡、非晶質、電子線照射損傷、電子回折

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