第83回分析化学討論会

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一般ポスター／テクノレビューポスター

一般ポスター-1／テクノレビューポスター

Sun. May 21, 2023 10:00 AM - 11:45 AM St (St)

10:00 AM - 11:45 AM

[P2034] イオン付着イオン化質量分析法のためのGC-MS装置用オプションユニットの試作開発

○三島 有二1、藤井 麻樹子2、津越 敬寿3 (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所)

Keywords:イオン付着イオン化質量分析法、スクリーニング分析、網羅的検出、有機物分析

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