講演情報

(ポスター講演)

一般ポスター／テクノレビューポスター

一般ポスター-1／テクノレビューポスター

2023年5月21日(日) 10:00 〜 11:45 P会場 (P会場)

10:00 〜 11:45

[P2034] イオン付着イオン化質量分析法のためのGC-MS装置用オプションユニットの試作開発

○三島有二¹、藤井麻樹子²、津越敬寿³ (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所)

キーワード：イオン付着イオン化質量分析法、スクリーニング分析、網羅的検出、有機物分析

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