第83回分析化学討論会

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一般ポスター/テクノレビューポスター

一般ポスター-2

Sun. May 21, 2023 1:15 PM - 3:00 PM St (St)

1:15 PM - 3:00 PM

[P2112] fsLA-spICP-MSによる材料表面の粒子状汚染物質評価技術の基礎検討

○山下 真弘1、奥田 勇気2 (1. 京セラ(株)、2. 西進商事(株))

Keywords:spICP-MS、fsLA-spICP-MS、LA-ICP-MS、nanoparticle

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