スケジュール 1 13:15 〜 15:00 [P2112] fsLA-spICP-MSによる材料表面の粒子状汚染物質評価技術の基礎検討 ○山下 真弘1、奥田 勇気2 (1. 京セラ(株)、2. 西進商事(株)) キーワード:spICP-MS、fsLA-spICP-MS、LA-ICP-MS、nanoparticle 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証