第84回分析化学討論会

Presentation information

Oral presentation

02: 一般講演(口頭発表)

01:金属材料、金属錯体(ICP-MSを含む)-1

Sun. May 19, 2024 9:00 AM - 9:45 AM E会場 (0121)

Chair:Kojiro Simojo

9:00 AM - 9:15 AM

[E2001] 鉄系微粒子汚染の検出を目指したタッチテスト法の開発

○高橋 由紀子1、蜂須賀 穂1 (1. 長岡技科大)

Keywords:鉄微粒子、SUS微粒子、微粒子汚染、タッチテスト、ナノ薄膜試験紙

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