TOF-ICP-MSによる個々の微粒子の元素組成解析<br /> - 軽元素の高感度検出の検討 -

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03: 一般講演（ポスター発表）

Sun. May 19, 2024 10:10 AM - 11:50 AM P/Y (体育館)

10:10 AM - 11:50 AM

○高橋隆子¹ (1. アメテック(株))

Keywords:TOF-ICP-MS、SP-ICP-MS、ノンターゲット分析、微粒子の多元素分析、軽元素の高感度検出

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