一般ポスター

[P2011] ポリイミド樹脂の超臨界メタノール処理サンプル解析へのダイレクト質量分析法の適用

○三島 有二¹、斎藤 元明¹、藤井 麻樹子²、津越 敬寿³ (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所)

Keywords:イオン付着イオン化質量分析法、超臨界メタノール処理、分子イオン計測、網羅的検出