第84回分析化学討論会

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07: 産業界 R&D 紹介講演(ポスター発表)

産業界R&D紹介ポスター

Sun. May 19, 2024 10:10 AM - 11:50 AM P/Y (体育館)

10:10 AM - 11:50 AM

[RD2017] 理研計器のその場分析装置

○山下 大輔1、石崎 温史1 (1. 理研計器(株))

Keywords:Photoemission Yield Spectroscopy、X-ray Diffraction、X-ray Fluorescence、Gas detector

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