2022年度 人工知能学会全国大会(第36回)

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[1N1-GS-5] エージェント:基礎

2022年6月14日(火) 10:00 〜 11:40 N会場 (Room 501)

座長:高野 諒(立命館大学)[遠隔]

10:20 〜 10:40

[1N1-GS-5-02] 離散制御器合成におけるメイクスパン比較時間削減のための部分問題化アルゴリズム

〇清水 優希1、山内 拓人1、鄭 顕志1 (1. 早稲田大学)

キーワード:離散制御器合成、リアクティブシステム、Labeled Transition System

システムにおいて,同じ目標を達成するとしても,さまざまな評価指標によって最適な達成方法は異なる.その考え方はイベントベースで動くシステムにしても同様であり,定性的メイクスパン比較と呼ばれる研究では,定性的な実行時間データから時間効率的に最効率,かつ安全性が保証された目標の達成プロセスを自動合成するアルゴリズムを提供した.しかし,従来の定性的メイクスパン比較において,最適なメイクスパンの比較問題を解く計算コストは,対象システムの分岐数に応じて増大してしまう課題が存在する.そこで,本論文ではこの課題を解決するために,モデルの収束点に注目したメイクスパン比較問題の部分問題化アルゴリズムを提案する.本提案手法は、モデルにおける関節点を探索することにより比較すべき分岐の収束点を見つけ出し比較問題をサブ問題化し、部分問題ごとにメイクスパン比較を行うことで全体での計算コストを削減する.本提案手法は複数パターンのモデルに対して実験し,単一の終了状態への収束性を有し複数の部分問題と偶発性を有する分岐で構成されたモデルに対し生成コントローラの等価性を有しながら実行時間の削減に成功したことがわかった.

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