出展者情報

[2M-2] JFEテクノリサーチ(株)

（1）ダメージを軽減するクライオシステムを用いた断面加工および電子顕微鏡観察（2）超高分解能電子顕微鏡（Cs補正STEM）を用いた各種材料の原子レベルの組織評価（3）希土類磁石材料の観察・分析技術（4）充電状態および放電状態Si系負極の微細構造解析（リチウムイオン二次電池）