（1）ダメージを軽減するクライオシステムを用いた断面加工および電子顕微鏡観察 （2）超高分解能電子顕微鏡（Cs補正STEM）を用いた各種材料の原子レベルの組織評価 （3）希土類磁石材料の観察・分析技術 （4）充電状態および放電状態Si系負極の微細構造解析（リチウムイオン二次電池）

■高速分光エリプソメーター（M-2000） ■太陽電池用分光エリプソメーター（T-Solar） ■簡易型分光エリプソメーター（alpha-SE） ■多入射角分光エリプソメーター（VASE） ■赤外域分光エリプソメーター（IR-VASE）

■英国VG Scienta社製　超高真空部品

■カタログ、「Material Matters」、「材料科学の基礎」などのニュースレター。

■1nm フィードバックステージシステム ■10nm フィードバックステージシステム ■真空対応 フィードバックステージシステム

■汎用積分球 ■全光束分光測定システム ■スペクトラロン標準反射板

■プローバーシステム

■顕微鏡用冷却加熱ステージ

■MBE装置 ■各種蒸発源セル ■低温ＳＴＭ装置　など

■サファイア単結晶基板 ■酸化物単結晶基板 ■サファイア加工製品