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一般セッション(口頭講演)

01．応用物理学一般 » 1.7 計測技術

[28p-B7-6~13] 1.7 計測技術

2013年3月28日(木) 15:00 〜 17:00 B7 (K2号館 4F-1403)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
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[28p-B7-6] △伝熱材料を評価するためのシステムの研究 (3:00 PM ～ 3:15 PM)

^○（M2）斎藤靖弘¹，辻裕樹²，江元博幸²，小室貴紀¹ (神奈川工科大院電気電子工¹，神奈川工科大電気電子情報工²)

[28p-B7-7] 過渡熱現象を利用したフィルム接着欠陥の観察　? 基礎検討III - (3:15 PM ～ 3:30 PM)

^○青柳稔，三ッ間雄一，奥田眞 (日工大電気電子)

[28p-B7-8] 過渡熱現象を利用したプラスチック容器内の液体観察　基礎検討IV (3:30 PM ～ 3:45 PM)

^○（M1）三ツ間雄一，青柳稔，奥田眞 (日工大電気電子)

[28p-B7-9] 水晶振動子型水素漏洩検知器の屋外使用のための温度補正方法 (3:45 PM ～ 4:00 PM)

^○鈴木淳¹，北條久男²，小林太吉³ (産総研¹，バキュームプロダクツ²，ブイピイアイ³)

[28p-B7-10] 非平衡電子を用いた金薄膜間の接触の測定 (4:00 PM ～ 4:15 PM)

^○友田基信¹，Thomas Dehoux²，岩崎洋平¹，松田理¹，Oliver Wright¹，Gusev Vitalyi³ (北大工¹，ボルドー第1大²，メーヌ大³)

[28p-B7-11] キセノンフラッシュランプを用いた空間中の微小パーティクル検出手法の研究開発 (4:15 PM ～ 4:30 PM)

^○清水隆広¹，有田龍之介²，久保田弘¹ (熊大院自¹，熊大工²)

[28p-B7-12] 非接触3次元白色光干渉粗さ計による圧電特性の面内分布測定 (4:30 PM ～ 4:45 PM)

^○關雅志¹，花田明紘¹，三浦寛基¹，木下健太郎^1,2，岸田悟^1,2 (鳥取大工¹，TEDREC²)

[28p-B7-13] Heを用いた大きなリーク検査方法の検討 (4:45 PM ～ 5:00 PM)

^○衣川勝 (三菱電機先端総研)