セッション情報

Tweet

一般セッション(口頭講演)

07．ビーム応用 » 7.2 電子顕微鏡，評価，測定，分析

[30a-B1-1~10] 7.2 電子顕微鏡，評価，測定，分析

2013年3月30日(土) 09:00 〜 11:45 B1 (K2号館 3F-1301)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

+全てマイスケジュールに登録

[30a-B1-1] 電子線トモグラフィーにおけるアライメント手法の定量的評価 (9:00 AM ～ 9:15 AM)

^○御堂義博，中前幸治 (阪大情報科学)

[30a-B1-2] ▼Image Processing for Phase Imperfections in Electron Holography (9:15 AM ～ 9:30 AM)

^○（D）李偉，丹司敬義 (名大)

[30a-B1-3] 電子線による位相計測のための光ファイバーアレイ検出器の開発 (9:30 AM ～ 9:45 AM)

^○石田高史¹，児玉哲司¹，川﨑忠寛²，小粥啓子³，生田孝⁴ (名城大理工¹，名大院工²，アプコ³，大阪電通大⁴)

[30a-B1-4] 電子回折図形に基づく新規位相イメージング法の開発と半導体p-n接合界面の可視化 (9:45 AM ～ 10:00 AM)

^○山崎順¹，太田圭祐²，森下茂幸²，佐々木宏和³，田中信夫¹ (名大エコ研¹，名大工²，古河電工³)

[30a-B1-5] 3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の収差補正TEM解析 (10:00 AM ～ 10:15 AM)

^○山崎順¹，稲元伸²，野村優貴²，石田篤志²，秋山賢輔³，平林康男³，田中信夫¹ (名大エコ研¹，名大工²，神奈川県産技セ³)

[30a-B1-6] 金-酸化チタン触媒の担体結晶構造分布観察 (10:15 AM ～ 10:30 AM)

^○秋田知樹，香山正憲 (産総研　ユビキタス)

[30a-B1-6.1] 休憩(15分)

[30a-B1-7] 走査電子顕微鏡におけるフォギング電子電流の測定とシミュレーション(Ⅲ) (10:45 AM ～ 11:00 AM)

^○（M1）小原康寛，大谷優，長田明，小寺正敏 (大工大工)

[30a-B1-8] 走査電子顕微鏡内における電子ビーム照射による絶縁体薄膜表面電位分布の測定 (11:00 AM ～ 11:15 AM)

^○（M1）大谷優，長田明，小原康寛，熊谷健太郎，小寺正敏 (大阪工大)

[30a-B1-9] 電子ビーム照射を受けた絶縁体薄膜の放電特性 (11:15 AM ～ 11:30 AM)

^○（B）熊谷健太朗，大谷優，小原康寛，小寺正敏 (大工大)

[30a-B1-10] ラインパターンにおける二次電子放出効率のアスペクト比依存性 (11:30 AM ～ 11:45 AM)

^○備前大輔¹，早田康成¹，数見秀之² (日立中研¹，日立ハイテク²)