[27p-G4-1~11] GaN系材料表面・界面評価の進展 -基礎物性から出発するデバイス性能向上へのアプローチ-

[27p-G4-5] 低Mgドープp形GaNショットキー接触の評価（30分） (3:30 PM ～ 4:00 PM)

^○塩島謙次 (福井大院工)

キーワード：p-GaN、ショットキー接触、障壁高さ