2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム » ・GaN系材料表面・界面評価の進展 -基礎物性から出発するデバイス性能向上へのアプローチ-

[27p-G4-1~11] GaN系材料表面・界面評価の進展 -基礎物性から出発するデバイス性能向上へのアプローチ-

2013年3月27日(水) 13:40 〜 17:45 G4 (B5号館 1F-2104)

[27p-G4-8] △AlGaN/GaNヘテロ接合におけるピエゾ効果と荷電表面準位 (4:45 PM ~ 5:00 PM)

保木井美和,榊裕之,秋山芳広,大森雅登 (豊田工大)

キーワード:表面準位、ひずみ