PDF ダウンロード スケジュール 1 いいね! 0 [28a-A4-3] △実時間分光エリプソメトリーおよび赤外分光によるa-SiC:H/a-Si:H界面構造の評価 (9:45 AM ~ 10:00 AM) ○佐藤正規,藤原裕之 (岐阜大) キーワード:分光エリプソメトリー、赤外分光、界面構造