[28p-A1-1~19] 3.7 近接場光学

[28p-A1-16] ナノ光学応用の相互作用利用型セキュリティを想定したナノ人工物メトリクスの試作 (5:00 PM ～ 5:15 PM)

^○法元盛久¹，大八木康之¹，竪直也²，松本勉³，成瀬誠⁴，大津元一² (大日本印刷¹，東大工²，横国大³，情報通信研究機構⁴)

キーワード：Artifact Metrics、ナノフォトニクス