[28p-B7-6~13] 1.7 計測技術

[28p-B7-7] 過渡熱現象を利用したフィルム接着欠陥の観察　? 基礎検討III - (3:15 PM ～ 3:30 PM)

^○青柳稔，三ッ間雄一，奥田眞 (日工大電気電子)

キーワード：赤外線、非破壊検査