2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

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[28p-G10-1~8] 高感度超伝導センシング技術が広げる世界

2013年3月28日(木) 13:15 〜 17:10 G10 (B5号館 2F-2204)

[28p-G10-1] 超伝導マイクロカロリメーター(TES)分析電子顕微鏡への期待(35分) (1:15 PM ~ 1:50 PM)

松村晶1,前畑京介1,田中啓一2,原徹3,満田和久4 (九大工1,日立ハイテク2,物材機構3,宇宙研4)

キーワード:X線分析、電子顕微鏡