PDF ダウンロード スケジュール 3 いいね! 0 [28p-G22-18] △PLイメージングによるn型およびp型SiCの拡張欠陥評価 (6:15 PM ~ 6:30 PM) ○河原知洋1,須田淳2,木本恒暢2 (京大工1,京大院工2) キーワード:SiC、拡張欠陥、PLイメージング