2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.5 Siプロセス技術

[28p-G6-1~17] 13.5 Siプロセス技術

2013年3月28日(木) 14:00 〜 18:30 G6 (B5号館 1F-2106)

[28p-G6-8] As+イオン注入したゲルマニウム層の化学分析 -イオン注入温度依存性- (3:45 PM ~ 4:00 PM)

小野貴寛1,大田晃生1,花房宏明1,村上秀樹1,東清一郎1,宮崎誠一2 (広大院先端研1,名大院工2)

キーワード:Ge、イオン注入