2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

06.薄膜・表面 » 6.5 表面物理・真空

[28p-PB4-1~15] 6.5 表面物理・真空

2013年3月28日(木) 16:00 〜 18:00 PB4 (第二体育館)

[28p-PB4-11] Si(100)表面におけるD2分子線散乱の角度分解REMPI測定 (4:00 PM ~ 6:00 PM)

岡本大佑1,久保敦1,近藤剛弘2 (筑波大物理1,筑波大物分2)

キーワード:分子線、Si、水素