2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・評価

[29a-G6-1~12] 13.1 基礎物性・評価

2013年3月29日(金) 09:00 〜 12:15 G6 (B5号館 1F-2106)

[29a-G6-1] 窒素同位体15Nを用いたSiN薄膜のレーザー補助3次元アトムプローブ分析検討 (9:00 AM ~ 9:15 AM)

金野晃之1,富田充裕1,北本克征2,竹野史郎2 (東芝研究開発センター1,東芝S&S社2)

キーワード:アトムプローブ、レーザー、窒化膜