2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・評価

[29a-G6-1~12] 13.1 基礎物性・評価

2013年3月29日(金) 09:00 〜 12:15 G6 (B5号館 1F-2106)

[29a-G6-8] 3次元アトムプローブによるシリコン中の重水素分布観察 (11:00 AM ~ 11:15 AM)

○(P)高見澤悠1,星勝也1,清水康雄1,井上耕治1,矢野史子1,2,永田晋二1,四竈樹男1,永井康介1 (東北大金研1,東京都市大2)

キーワード:atom probe、3次元アトムプローブ