2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.6 Siデバイス/集積化技術

[29a-G9-1~11] 13.6 Siデバイス/集積化技術

2013年3月29日(金) 10:00 〜 12:45 G9 (B5号館 2F-2203)

[29a-G9-11] ▲Noise Characteristics of SOI MOSFET for Single-Photon Detection (12:30 PM ~ 12:45 AM)

Dedy Putranto1,2,杜偉3,佐藤弘明1,小野篤史1,Purnomo Priambodo2,Djoko Hartanto2,猪川洋1 (静岡大電子研1,インドネシア大2,ワシントン州立大3)

キーワード:SOI MOSFET、低周波雑音、単一光子検出