[29a-PB3-1~9] 9.3 ナノエレクトロニクス

[29a-PB3-7] グラフェンに対するSPMスクラッチ加工の探針走査条件の検討 (9:30 AM ～ 11:30 AM)

^○吉田卓¹，須田隆太郎¹，齋藤孝成¹，Tseng Ampere. A.²，白樫淳一¹ (東京農工大院工¹，アリゾナ州立大²)

キーワード：グラフェン、スクラッチ、走査型プローブ顕微鏡