2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[29p-D3-1~20] 6.6 プローブ顕微鏡

2013年3月29日(金) 13:30 〜 18:45 D3 (C5号館 3F-324)

[29p-D3-11] イオンコンダクタンス顕微鏡による細胞膜揺らぎの定量評価 (4:00 PM ~ 4:15 PM)

水谷祐輔1,石倉禅1,Myung-Hoon Choi2,Sang-Joon Cho2,3岡嶋孝治1 (北大情報科学1,パークシステムズ2,ソウル大3)

キーワード:イオンコンダクタンス顕微鏡、細胞膜