[29p-D3-1~20] 6.6 プローブ顕微鏡

[29p-D3-15] qPlus sensorによるX線支援非接触原子間力顕微鏡（XANAM）測定 (5:15 PM ～ 5:30 PM)

^○鈴木秀士¹，向井慎吾²，田旺帝³，野村昌治⁴，朝倉清高² (名大院工¹，北大触媒セ²，ICU³，KEK-PF⁴)

キーワード：X-ray Aided Noncontact Atomic Force Microscopy、qPlus sensor、Elemental analysis