[29p-D3-1~20] 6.6 プローブ顕微鏡

[29p-D3-19] 時間分解STMによる電子スピン寿命計測 (6:15 PM ～ 6:30 PM)

^○吉田昭二¹，相澤優太¹，武内修¹，目良裕²，重川秀実¹ (筑大物工¹，東大工²)

キーワード：スピン計測