2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[29p-D3-1~20] 6.6 プローブ顕微鏡

2013年3月29日(金) 13:30 〜 18:45 D3 (C5号館 3F-324)

[29p-D3-6] 液中高分解能AFM計測のための探針表面処理法の検討 (2:45 PM ~ 3:00 PM)

中谷内裕徳1,淺川雅2,福間剛士1,2 (金大理工1,金大バイオAFMセンター2)

キーワード:原子間力顕微鏡、探針表面処理